原子力显微镜(AFM)可以在纳米尺度下研究材料表面的结构、力学、和电学等性质。通过使用尖锐的针尖,AFM在理论上甚至能获得原子级别的分辨率。然而,在实际操作中,高分辨扫描是具有挑战的。许多高分辨图像需要在低温、高真空等苛刻的条件下获得,或者需要研究者自己搭建AFM系统。
此次网络讲座会介绍影响AFM高分辨扫描的诸多因素,以及Cypher系列AFM如何针对这些因素进行优化,使得高分辨不再高不可攀。同时,我们会介绍在大气和溶液环境中获得的一些高分辨扫描结果,包括晶体的原子点缺陷图像,无机和有机二维材料的晶格图像,生物大分子的组装结构等。期待您的参与!
讲座时间:2019年1月3日 下午14:00